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Journal Of Electronic Imaging

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影響因子:1

年發文量:316

電子影像雜志 SCIE

Journal Of Electronic Imaging

《電子影像雜志》(Journal Of Electronic Imaging)是一本以工程技術-成像科學與照相技術綜合研究為特色的國際期刊。該刊由SPIE出版商創刊于1992年,刊期Quarterly。該刊已被國際重要權威數據庫SCIE收錄。期刊聚焦工程技術-成像科學與照相技術領域的重點研究和前沿進展,及時刊載和報道該領域的研究成果,致力于成為該領域同行進行快速學術交流的信息窗口與平臺。該刊2023年影響因子為1。CiteScore指數值為1.7。

投稿咨詢 加急發表

期刊簡介預計審稿時間: 約4.0個月

The Journal of Electronic Imaging publishes peer-reviewed papers in all technology areas that make up the field of electronic imaging and are normally considered in the design, engineering, and applications of electronic imaging systems.

《電子成像雜志》發表電子成像領域所有技術領域的同行評審論文,這些論文通常涉及電子成像系統的設計、工程和應用。

《Journal Of Electronic Imaging》(電子影像雜志)編輯部通訊方式為I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。如果您需要協助投稿或潤稿服務,您可以咨詢我們的客服老師。我們專注于期刊咨詢服務十年,熟悉發表政策,可為您提供一對一投稿指導,避免您在投稿時頻繁碰壁,節省您的寶貴時間,有效提升發表機率,確保SCI檢索(檢索不了全額退款)。我們視信譽為生命,多方面確保文章安全保密,在任何情況下都不會泄露您的個人信息或稿件內容。

中科院分區

2023年12月升級版

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區

2022年12月升級版

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區

2021年12月舊的升級版

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區

2021年12月基礎版

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區

2021年12月升級版

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區

2020年12月舊的升級版

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區
名詞解釋:

基礎版:即2019年12月17日,正式發布的《2019年中國科學院文獻情報中心期刊分區表》;將JCR中所有期刊分為13個大類,期刊范圍只有SCI期刊。

升級版:即2020年1月13日,正式發布的《2019年中國科學院文獻情報中心期刊分區表升級版(試行)》,升級版采用了改進后的指標方法體系對基礎版的延續和改進,影響因子不再是分區的唯一或者決定性因素,也沒有了分區的IF閾值期刊由基礎版的13個學科擴展至18個,科研評價將更加明確。期刊范圍有SCI期刊、SSCI期刊。從2022年開始,分區表將只發布升級版結果,不再有基礎版和升級版之分,基礎版和升級版(試行)將過渡共存三年時間。

JCR分區(2023-2024年最新版)

JCR分區等級:Q4

按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

19.2%

學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.3%

學科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119

17.2%

按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354

18.5%

學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.28%

學科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120

13.75%

Gold OA文章占比 研究類文章占比 文章自引率
3.76% 98.10% 0.27...
開源占比 出版國人文章占比 OA被引用占比
0.03... -- 0.05...

名詞解釋:JCR分區在學術期刊評價、科研成果展示、科研方向引導以及學術交流與合作等方面都具有重要的價值。通過對期刊影響因子的精確計算和細致劃分,JCR分區能夠清晰地反映出不同期刊在同一學科領域內的相對位置,從而幫助科研人員準確識別出高質量的學術期刊。

CiteScore 指數(2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore 指數
1.7 0.264 0.357
學科類別 分區 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q3 540 / 797

32%

大類:Engineering 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 167 / 224

25%

大類:Engineering 小類:Computer Science Applications Q3 610 / 817

25%

名詞解釋:CiteScore是基于Scopus數據庫的全新期刊評價體系。CiteScore 2021 的計算方式是期刊最近4年(含計算年度)的被引次數除以該期刊近四年發表的文獻數。CiteScore基于全球最廣泛的摘要和引文數據庫Scopus,適用于所有連續出版物,而不僅僅是期刊。目前CiteScore 收錄了超過 26000 種期刊,比獲得影響因子的期刊多13000種。被各界人士認為是影響因子最有力的競爭對手。

數據趨勢圖

歷年中科院分區趨勢圖

歷年IF值(影響因子)

歷年引文指標和發文量

歷年自引數據

發文數據

2019-2021年文章引用數據

文章引用名稱 引用次數
Image privacy scheme using quantum spinn... 13
Defogging of road images using gain coef... 10
SWCD: a sliding window and self-regulate... 10
Single image dehazing using a multilayer... 10
Optimized fuzzy cellular automata for sy... 9
Infrared and visible image fusion based ... 8
Image segmentation via multilevel thresh... 8
Joint classification of multiresolution ... 7
Improved opponent color local binary pat... 6
Combining background subtraction algorit... 6

2019-2021年文章被引用數據

被引用期刊名稱 數量
IEEE ACCESS 167
J ELECTRON IMAGING 163
MULTIMED TOOLS APPL 118
SENSORS-BASEL 67
SIGNAL PROCESS-IMAGE 44
APPL SCI-BASEL 29
IEEE T IMAGE PROCESS 29
IET IMAGE PROCESS 29
OPT EXPRESS 27
NEUROCOMPUTING 26

2019-2021年引用數據

引用期刊名稱 數量
IEEE T IMAGE PROCESS 573
IEEE T PATTERN ANAL 435
J ELECTRON IMAGING 163
PATTERN RECOGN 159
INT J COMPUT VISION 153
NEUROCOMPUTING 118
IEEE T CIRC SYST VID 105
ACM T GRAPHIC 74
MULTIMED TOOLS APPL 74
PATTERN RECOGN LETT 73

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免責聲明

若用戶需要出版服務,請聯系出版商:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。

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