期刊簡介預計審稿時間： 約3.0個月

Micron is an interdisciplinary forum for all work that involves new applications of microscopy or where advanced microscopy plays a central role. The journal will publish on the design, methods, application, practice or theory of microscopy and microanalysis, including reports on optical, electron-beam, X-ray microtomography, and scanning-probe systems. It also aims at the regular publication of review papers, short communications, as well as thematic issues on contemporary developments in microscopy and microanalysis. The journal embraces original research in which microscopy has contributed significantly to knowledge in biology, life science, nanoscience and nanotechnology, materials science and engineering.

Micron 是一個跨學科論壇，涵蓋涉及顯微鏡新應用或高級顯微鏡發揮核心作用的所有工作。該期刊將發表有關顯微鏡和微分析的設計、方法、應用、實踐或理論的文章，??包括光學、電子束、X 射線微層析成像和掃描探針系統的報告。它還旨在定期發表評論論文、簡短通訊以及有關顯微鏡和微分析當代發展的專題。該期刊涵蓋原創研究，其中顯微鏡對生物學、生命科學、納米科學和納米技術、材料科學和工程領域的知識做出了重大貢獻。

《Micron》(美光)編輯部通訊方式為PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB。如果您需要協助投稿或潤稿服務，您可以咨詢我們的客服老師。我們專注于期刊咨詢服務十年，熟悉發表政策，可為您提供一對一投稿指導，避免您在投稿時頻繁碰壁，節省您的寶貴時間，有效提升發表機率，確保SCI檢索（檢索不了全額退款）。我們視信譽為生命，多方面確保文章安全保密，在任何情況下都不會泄露您的個人信息或稿件內容。