《儀器儀表和測(cè)量的IEEE Transactions》(Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement)是一本以工程技術(shù)-工程：電子與電氣綜合研究為特色的國際期刊。該刊由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商創(chuàng)刊于1952年，刊期Bimonthly。該刊已被國際重要權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄。期刊聚焦工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域的重點(diǎn)研究和前沿進(jìn)展，及時(shí)刊載和報(bào)道該領(lǐng)域的研究成果，致力于成為該領(lǐng)域同行進(jìn)行快速學(xué)術(shù)交流的信息窗口與平臺(tái)。該刊2023年影響因子為5.6。CiteScore指數(shù)值為9。
Papers are sought that address innovative solutions to the development and use of electrical and electronic instruments and equipment to measure, monitor and/or record physical phenomena for the purpose of advancing measurement science, methods, functionality and applications. The scope of these papers may encompass: (1) theory, methodology, and practice of measurement; (2) design, development and evaluation of instrumentation and measurement systems and components used in generating, acquiring, conditioning and processing signals; (3) analysis, representation, display, and preservation of the information obtained from a set of measurements; and (4) scientific and technical support to establishment and maintenance of technical standards in the field of Instrumentation and Measurement.
征集的論文應(yīng)涉及創(chuàng)新解決方案，以開發(fā)和使用電氣和電子儀器和設(shè)備來測(cè)量、監(jiān)控和/或記錄物理現(xiàn)象，從而推動(dòng)測(cè)量科學(xué)、方法、功能和應(yīng)用的發(fā)展。這些論文的范圍可能包括：(1) 測(cè)量的理論、方法和實(shí)踐；(2) 用于生成、獲取、調(diào)節(jié)和處理信號(hào)的儀器和測(cè)量系統(tǒng)及組件的設(shè)計(jì)、開發(fā)和評(píng)估；(3) 分析、表示、顯示和保存從一組測(cè)量中獲得的信息；(4) 對(duì)儀器和測(cè)量領(lǐng)域技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的建立和維護(hù)提供科學(xué)和技術(shù)支持。
《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》(儀器儀表和測(cè)量的IEEE Transactions)編輯部通訊方式為IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。如果您需要協(xié)助投稿或潤稿服務(wù)，您可以咨詢我們的客服老師。我們專注于期刊咨詢服務(wù)十年，熟悉發(fā)表政策，可為您提供一對(duì)一投稿指導(dǎo)，避免您在投稿時(shí)頻繁碰壁，節(jié)省您的寶貴時(shí)間，有效提升發(fā)表機(jī)率，確保SCI檢索（檢索不了全額退款）。我們視信譽(yù)為生命，多方面確保文章安全保密，在任何情況下都不會(huì)泄露您的個(gè)人信息或稿件內(nèi)容。
2023年12月升級(jí)版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 2區(qū) 2區(qū) | 是 | 否 |
2022年12月升級(jí)版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 2區(qū) 2區(qū) | 否 | 否 |
2021年12月舊的升級(jí)版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 2區(qū) 2區(qū) | 否 | 否 |
2021年12月基礎(chǔ)版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 3區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 3區(qū) 2區(qū) | 否 | 否 |
2021年12月升級(jí)版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 2區(qū) 2區(qū) | 否 | 否 |
2020年12月舊的升級(jí)版
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 2區(qū) 2區(qū) | 否 | 否 |
基礎(chǔ)版：即2019年12月17日，正式發(fā)布的《2019年中國科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心期刊分區(qū)表》；將JCR中所有期刊分為13個(gè)大類,期刊范圍只有SCI期刊。
升級(jí)版：即2020年1月13日，正式發(fā)布的《2019年中國科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心期刊分區(qū)表升級(jí)版（試行）》,升級(jí)版采用了改進(jìn)后的指標(biāo)方法體系對(duì)基礎(chǔ)版的延續(xù)和改進(jìn)，影響因子不再是分區(qū)的唯一或者決定性因素，也沒有了分區(qū)的IF閾值期刊由基礎(chǔ)版的13個(gè)學(xué)科擴(kuò)展至18個(gè)，科研評(píng)價(jià)將更加明確。期刊范圍有SCI期刊、SSCI期刊。從2022年開始，分區(qū)表將只發(fā)布升級(jí)版結(jié)果，不再有基礎(chǔ)版和升級(jí)版之分,基礎(chǔ)版和升級(jí)版（試行）將過渡共存三年時(shí)間。
JCR分區(qū)等級(jí)：Q1
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 53 / 352 |
85.1% |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 9 / 76 |
88.8% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 52 / 354 |
85.45% |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 7 / 76 |
91.45% |
| Gold OA文章占比 | 研究類文章占比 | 文章自引率 |
| 6.42% | 99.47% | 0.23... |
| 開源占比 | 出版國人文章占比 | OA被引用占比 |
| 0.07... | 0.31 | -- |
名詞解釋：JCR分區(qū)在學(xué)術(shù)期刊評(píng)價(jià)、科研成果展示、科研方向引導(dǎo)以及學(xué)術(shù)交流與合作等方面都具有重要的價(jià)值。通過對(duì)期刊影響因子的精確計(jì)算和細(xì)致劃分，JCR分區(qū)能夠清晰地反映出不同期刊在同一學(xué)科領(lǐng)域內(nèi)的相對(duì)位置，從而幫助科研人員準(zhǔn)確識(shí)別出高質(zhì)量的學(xué)術(shù)期刊。
| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 指數(shù) | ||||||||||||
| 9 | 1.536 | 1.741 |
|
名詞解釋：CiteScore是基于Scopus數(shù)據(jù)庫的全新期刊評(píng)價(jià)體系。CiteScore 2021 的計(jì)算方式是期刊最近4年（含計(jì)算年度）的被引次數(shù)除以該期刊近四年發(fā)表的文獻(xiàn)數(shù)。CiteScore基于全球最廣泛的摘要和引文數(shù)據(jù)庫Scopus，適用于所有連續(xù)出版物，而不僅僅是期刊。目前CiteScore 收錄了超過 26000 種期刊，比獲得影響因子的期刊多13000種。被各界人士認(rèn)為是影響因子最有力的競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手。
歷年中科院分區(qū)趨勢(shì)圖
歷年IF值(影響因子)
歷年引文指標(biāo)和發(fā)文量
歷年自引數(shù)據(jù)
2019-2021年國家/地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計(jì)
| 國家/地區(qū) | 數(shù)量 |
| CHINA MAINLAND | 696 |
| Italy | 237 |
| USA | 215 |
| India | 144 |
| England | 101 |
| Canada | 92 |
| GERMANY (FED REP GER) | 70 |
| Spain | 53 |
| South Korea | 47 |
| Brazil | 38 |
2019-2021年機(jī)構(gòu)發(fā)文量統(tǒng)計(jì)
| 機(jī)構(gòu) | 數(shù)量 |
| INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (I... | 85 |
| CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 50 |
| XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY | 44 |
| TSINGHUA UNIVERSITY | 42 |
| TIANJIN UNIVERSITY | 40 |
| BEIHANG UNIVERSITY | 39 |
| UNIVERSITY OF MISSOURI SYSTEM | 33 |
| HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY | 30 |
| SHANGHAI JIAO TONG UNIVERSITY | 28 |
| SOUTHWEST JIAOTONG UNIVERSITY | 28 |
2019-2021年文章引用數(shù)據(jù)
| 文章引用名稱 | 引用次數(shù) |
| Automatic Defect Detection of Fasteners ... | 54 |
| Intelligent Bearing Fault Diagnosis Meth... | 53 |
| Medical Image Fusion With Parameter-Adap... | 43 |
| Monitoring of Large-Area IoT Sensors Usi... | 40 |
| Vibration-Based Intelligent Fault Diagno... | 34 |
| Deep Architecture for High-Speed Railway... | 26 |
| Highly Sensitive SPR Biosensor Based on ... | 26 |
| RideNN: A New Rider Optimization Algorit... | 25 |
| An Unsupervised-Learning-Based Approach ... | 21 |
| A CNN-Based Defect Inspection Method for... | 20 |
2019-2021年文章被引用數(shù)據(jù)
| 被引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
| IEEE ACCESS | 940 |
| SENSORS-BASEL | 761 |
| IEEE SENS J | 555 |
| MEASUREMENT | 390 |
| ENERGIES | 245 |
| APPL SCI-BASEL | 194 |
| ELECTRONICS-SWITZ | 169 |
| IEEE T IND ELECTRON | 149 |
| MEAS SCI TECHNOL | 149 |
2019-2021年引用數(shù)據(jù)
| 引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
| IEEE SENS J | 265 |
| IEEE T IND ELECTRON | 205 |
| MEAS SCI TECHNOL | 203 |
| SENSORS-BASEL | 177 |
| IEEE T MICROW THEORY | 174 |
| METROLOGIA | 167 |
| IEEE T POWER DELIVER | 162 |
| MEASUREMENT | 151 |
| MECH SYST SIGNAL PR | 132 |
中科院分區(qū)：1區(qū)
影響因子：7.7
審稿周期：約Time to first decision: 9 days; Review time: 64 days; Submission to acceptance: 82 days; 約2.7個(gè)月 約7.8周
中科院分區(qū)：1區(qū)
影響因子：8.1
審稿周期：約Time to first decision: 6 days; Review time: 44 days; Submission to acceptance: 54 days; 約4.1個(gè)月 約6.8周
中科院分區(qū)：3區(qū)
影響因子：3.3
審稿周期：約17.72天 11 Weeks
中科院分區(qū)：1區(qū)
影響因子：98.4
審稿周期： 約3月
中科院分區(qū)：2區(qū)
影響因子：5.8
審稿周期： 約2.4個(gè)月 約7.6周
中科院分區(qū)：2區(qū)
影響因子：5.1
審稿周期： 約1.9個(gè)月 約2.7周
若用戶需要出版服務(wù)，請(qǐng)聯(lián)系出版商：IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。
